期刊专题

10.3969/j.issn.0258-7998.2002.10.013

测试系统中干拢及其形成机理

引用
阐述了测试系统中的各类干扰,并对其产生的原因作了较详细的分析.针对干扰的特性,指出了它们的危害范围及程度,以便于对其进行抑制,增强抗干扰的效果.

测试系统、干扰、干扰源

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TP2(自动化技术及设备)

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子技术应用

0258-7998

11-2305/TN

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2002,28(10)

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