超宽禁带半导体材料检测标准研究
系统梳理了半导体材料和金刚石等超宽禁带半导体材料现行国际和国内标准体系,总结半导体材料标准化经验,结合超宽禁带半导体材料发展阶段和现阶段标准化需求,提出了超宽禁带半导体材料检测方法标准先行的发展思路,并具体提出了热导率、电学性质、位错密度、几何尺寸和表面粗糙度五项超宽禁带半导体材料检测标准需求.
超宽禁带半导体材料、检测标准、检测方法
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TN304.07(半导体技术)
2019-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
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超宽禁带半导体材料、检测标准、检测方法
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TN304.07(半导体技术)
2019-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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