防呆技术在集成电路多工位测试中的应用

摘要：

在集成电路生产测试中,往往会采取多工位测试方法,该方法会显著提高测试的效率,提高产出量;但是,多工位测试方法存在一定的生产隐患,有时会带来严重的生产事故,导致大量的产品返工.为解决这一问题,在多工位测试中,分别从软件和硬件上提出了防呆技术,降低了采用多工位测试时多个测试工位连接的错误,提高了生产效率.

关键词：测试、多工位、防呆技术

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-06-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：59-63