修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法

摘要：

飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTC C基板、PC B板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备.针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出待测基片的旋转角度,综合考虑平移和旋转这两点的因素最终确定待测点的实际位置坐标.

关键词：飞针测试系统、坐标修正、平移偏距、旋转角度

所属期刊栏目：46

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2017-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：36-40,45