基于FPGA的频率测试系统

摘要：

传统ATE比较昂贵,功率大耗电多,造成工C的测试成本偏高,针对ATE的不足之处,设计制作FPG A模块的频率测试系统,包括FPGA测试系统的组成模块,测试原理和测试方法,以及与H andler的通信设计.该测试系统占用空间小,耗电少,测试成本低,达到了节能降耗,降低测试成本的目的.

关键词：现场可编程逻辑门阵列(FPGA)、测频模块、自动测试、通信模块

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：46-48