期刊专题

10.3969/j.issn.1004-4507.2012.08.011

薄膜电容器充放电试验仪的研制

引用
薄膜电容器在经过多次直流充电、短路放电试验后,进行薄膜电容器损耗角正切值(tanδ)测量及容量值测量,再根据其测量值变化情况,针对性的分析生产工艺中存在的问题。电容器短路放电电流很大,放电开关触点要求高,研制的薄膜电容器充放电试验仪采用气缸驱动完成充放电动作切换,充放电触点使用寿命大大增加,满足试验需要。

薄膜电容器、充放电试验、气缸驱动

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TM533.1(电器)

2012-11-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

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2012,41(8)

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