10.3969/j.issn.1004-4507.2012.01.006
塑封IC失效分析及对策
阐述了塑封IC(集成电路)常见的失效现象,对塑封IC失效的几种分析方法和分析技术做了叙述,然后提出塑封IC失效分析的步骤,并从设计、工艺和材料控制、包装、运输等方面提出改善塑封IC可靠性的措施。
塑封IC、失效分析、改善措施
41
TN305.94(半导体技术)
2012-05-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
27-32
10.3969/j.issn.1004-4507.2012.01.006
塑封IC、失效分析、改善措施
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TN305.94(半导体技术)
2012-05-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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