硅衬底结构LED芯片阵列封装热可靠性分析

摘要：

LED阵列封装是高密度电子封装的解决方案之一,LED的光集成度得到提高,总体输入功率提高,但同时其发热量大,封装结构如果不合理,那么在温度载荷下各层材料热膨胀系数的差异将会导致显著的热失配现象,从而将会大大缩短LED的寿命.为此,兼顾散热和封装的可靠性设计与表面贴装式将芯片直接焊接在铝基板上不同的是采用硅衬底过渡,同时在硅衬底上布置电路这一结构.这种结构的优点是可以通过硅衬底的过渡来降低热失配对封装结构的影响,同时硅衬底作为电路层则省去了器件引脚.通过对4×4的LED芯片阵列结构进行有限元模拟,分析了温度对带有硅衬底的LED芯片阵列封装可靠性影响,同时对硅衬底进行分析和总结.

关键词：硅衬底、LED芯片阵列封装、散热、有限元、可靠性

所属期刊栏目：39

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2011-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：31-34,45