集成电路测试系统的加流测压及加压测流设计

摘要：

在集成电路的测试中,通常需要给所测试的集成电路提供稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;测试系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能.且具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统.应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测量精度高.

关键词：集成电路测试、电压电流源、加压测流、加流测压、箝位

所属期刊栏目：39

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2010-12-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：45-47,51