期刊专题

10.3969/j.issn.1004-4507.2010.08.004

多晶硅真空区熔提纯技术研究

引用
对真空单晶用多晶硅真空区熔提纯技术进行了分析,通过理论实践相结合,对真空区熔提纯过程中的提纯速率、熔区长度、提纯次数以及其它工艺参数进行了分析,制定了获得目标电阻率、型号、直径的有效区熔提纯工艺.

多晶硅、提纯、提纯速率

39

TN304.051(半导体技术)

2010-11-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

16-19

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电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

39

2010,39(8)

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