图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键

摘要：

多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:Parallel Test Efficiency)降低.测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高.这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率.

关键词：图形测试、模似和混合信号、并行测试效率

所属期刊栏目：39

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2010-08-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：54-56