10.3969/j.issn.1004-4507.2010.02.005
薄膜电容直流耐压测试仪的原理与实现
介绍了薄膜电容分选机中直流耐压测试仪的开发背景与意义,阐述了直流耐压测试的原理与结构,对高压条件下的充电过程、放电过程,回路控制、检测和抗干扰技术等主要设计思想与理论进行详细说明.另外还对客户工厂中的应用情况以及存在问题做了简单概括.
直流耐压、测量、薄膜电容、分选机
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TN606(电子元件、组件)
2010-04-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
17-20,42