SoC芯片测试设备现状

摘要：

随着SoC应用的日益普及,对SoC测试技术提出了越来越高的要求,掌握新的测试理念、新的测试流程、方法和技术,是应对SoC应用对测试技术提出的挑战,适应测试发展趋势的必然要求.介绍了应对SoC测试技术挑战的基本方法和设备结构及几家设备公司SoC芯片测试设备概况.

关键词：SoC芯片测试、测试方法、测试系统结构、测试设备

所属期刊栏目：38

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：1-9