半导体测试分选编带机的简单系统工程分析与评价

摘要：

介绍了半导体测试分选编带机的技术指标要求,并运用系统工程方法建立了简单的系统结构模型,讨论了该设备的每个关键技术及实现方法.在与国外机型综合比较后,得出了可行性分析的结论.

关键词：半导体、测试分选、编带、系统工程、结构模型

所属期刊栏目：38

分类号：TN606(电子元件、组件)

在线出版日期：2009-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：24-28