基于SoC测试系统的RF圆晶片测试技术

摘要：

以手机为代表的无线通信应用技术已向SiP化发展.因此对构成SiP芯片的各个单元(chip)进行圆晶片级别的测试就必不可少.爱德万测试(ADVANTEST)开发了基于SoC测试系统的RF圆晶片测试解决方案,提供了一系列新技术来解决串扰、电源阻抗和等长布线等课题,从而实现低成本的圆晶片测试.本文将就RF圆晶片级别测试技术及SoC测试系统来介绍该RF圆晶片测试方案.

关键词：RF、圆晶片测试、SoC测试系统、串扰、同测、低成本

所属期刊栏目：38

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2009-05-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：15-19