T2000 GSMF-下一代低成本开放架构测试解决方案

摘要：

近年来IC工业的快速发展对于自动测试设备(ATE)在架构、成本等方面提出了挑战.面对需求,ADVANTEST提出了开放架构测试平台的标准-OPENSTAR以及基于此标准的T2000SoC测试系统,其中T2000 GSMF是最新发布的低成本的ATE解决方案.

关键词：自动测试设备、开放架构、T2000 GSMF

所属期刊栏目：37

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：54-56