Veeco推出最新INSIGHT三维原子力显微镜为45 nm以下工艺带来高效精准测量技术/美国国家半导体推出业界首款单芯片高电压双开关

机标关键词：三维、原子力显微镜、工艺、测量技术、美国、国家、半导体、单芯片、高电压

所属期刊栏目：36

分类号：TH7;TP3

在线出版日期：2008-04-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：70