移动通信存储MCP器件的最终测试及其有效解决方案

摘要：

分析了存储器芯片自动测试设备的一般构架、存储器件MCP最终测试的需求和特点,研究了最终测试成本的影响因素,提出了存储器件最终测试解决方案应达到的标准,进而分析了VERSATEST应用于MCP最终测试的构架优势,并深入研究了突破性关键接口技术--可编程接口矩阵(PIM).实验表明,该解决方案可实现有效的MCP最终测试、减少测试时间、提高测试并行度,从而降低测试成本.

关键词：多芯片封装、自动测试设备、最终测试

所属期刊栏目：36

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：43-48