MCM基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法

摘要：

介绍了MCM基板自动光学检测算法.该算法包括二值化处理,数学形态学中的开运算和闭运算、骨架化算法,以及特征提取和特征比对.该算法能够快速准确地抽取MCM基板电路中的主要特征,并且在有效放大短路和断路特征之后检测出缺陷.

关键词：二值化处理、开运算、闭运算、骨架化算法

所属期刊栏目：36

分类号：TN206(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2006-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：35-38