基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试

摘要：

介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法.并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试.

关键词：高速数模转换器芯片、任意波型产生器/模拟捕捉器、数模混合信号芯片测试

所属期刊栏目：34

分类号：TN606(电子元件、组件)

在线出版日期：2005-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：37-42