一种基于嵌入式IP内核模块的测试方法

摘要：

嵌入式内核结构的测试正面临着新的挑战,需要提出有效的测试方法.针对IP内核模块测试所面临的技术难点,详细介绍了IP核模块实现测试所需要构建的硬件环境和完整的测试方法,并分析了由测试理论和方法而形成的国际公认标准IEEE P1500.

关键词：系统级芯片、知识产权(IP)、内核测试标准

所属期刊栏目：34

分类号：TN307(半导体技术)

在线出版日期：2005-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：54-56,66