10.3969/j.issn.1004-4507.2005.05.011
大容量存储器集成电路的测试
介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对大容量存储器集成电路的测试方法作了初步探讨,希望对实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测和成品测试有所帮助.
测试系统、存储器集成电路、块、页
34
TN407(微电子学、集成电路(IC))
科技部资助项目国科发计字[2002]450号
2005-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
49-52
10.3969/j.issn.1004-4507.2005.05.011
测试系统、存储器集成电路、块、页
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
科技部资助项目国科发计字[2002]450号
2005-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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