10.3969/j.issn.1004-4507.2004.09.007
半导体硅片清洗工艺发展方向
对半导体硅片传统的RCA清洗办法中各种清洗液的清洗原理、清洗特点、清洗局限以及清洗对硅片表面微观状态的影响进行了详细的论述,同时在此基础上,对新的清洗办法(改进的RCA清洗办法)进行了一定的说明,指出了硅片清洗工艺的发展方向.
硅片、RCA清洗、硅片清洗、硅片表面
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TN305.97(半导体技术)
2004-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
23-26
10.3969/j.issn.1004-4507.2004.09.007
硅片、RCA清洗、硅片清洗、硅片表面
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2004-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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