用于控制NRE和产品测试成本的改进的设计-生产-测试的流程

摘要：

介绍传统测试流程和先进测试流程的比较,新测试流程利用在设计中使用虚拟测试工具、专门的工程测试系统以及灵活的自动测试系统来降低SoC芯片的测试成本.

关键词：可测性设计、数字虚拟测试仪、测试开发环境

所属期刊栏目：32

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2003-11-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：12-14,86