电力控制系统中CCGA失效预测分析

摘要：

陶瓷柱栅阵列在一些高性能电力控制系统中具有非常重要的作用,其焊点可靠性直接影响控制系统的性能及可靠性.通过建立双参数的人工神经网络失效预测模型,形成具有普遍适用性的陶瓷柱栅阵列焊点空洞率预测方法.设计了陶瓷柱栅阵列焊点失效试验的方案,并对试验数据结果进行了初步的分布特点与统计特征分析.结合得到的数据结果,对神经网络模型进行双参数特征的训练,将模型的预测结果与单变量特征预测方法进行对比,并将预测模型应用于实际生产中,验证了该预测模型的有效性和优越性.

关键词：陶瓷柱栅阵列、焊点空洞率、失效预测、神经网络

所属期刊栏目：41

分类号：TN606(电子元件、组件)

在线出版日期：2020-03-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：43-47