高Q值铜内电极MLCC烧结工艺研究

摘要：

提出了一种高Q值铜内电极多层陶瓷电容器(MLCC)的烧结工艺.研究了烧结工艺中烧结温度、保温时间以及烧结环境对高Q值铜内电极MLCC的损耗和绝缘性能的影响,结果发现,合适的烧结温度可以使陶瓷晶粒生长充分,同时可以防止铜内电极出现挥铜现象.合适的保温时间可以在一定程度上改善瓷体颜色发白的现象.特殊的烧结环境可以使陶瓷芯片烧结更加致密,从根本上解决颜色发白的问题,从而解决铜内电极MLCC沉积后存在的损耗上升和绝缘性能下降的问题.

关键词：铜内电极、Q值、损耗、绝缘、烧结温度、烧结环境、多层陶瓷电容器

所属期刊栏目：39

分类号：TM28(电工材料)

在线出版日期：2019-01-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：359-362