基于故障树的微波组件调测智能排故专家系统

摘要：

介绍了一种基于微波组件调试与测试过程故障分析的智能排故专家系统.通过对微波组件调测全流程排故信息采集整理的故障树分析,设计出一套实现智能排故的专家系统.通过模拟现场的CBB某微波组件实际案例进行测试,检验系统智能排故推理诊断的可行性.

关键词：故障树、智能排故、专家系统

所属期刊栏目：39

分类号：TN60;TP278(电子元件、组件)

在线出版日期：2018-02-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：11-14