10.14176/j.issn.1001-3474.2017.04.009
大尺寸LCCC封装器件装联研究
LCCC器件具有小型化、高密度和高散热性能等特点,在军工领域中被广泛应用.但因其与FR-4印制板间存在较大CTE差异,在宇航产品真空、高低温循环的特殊环境条件下,会导致器件焊点的长期可靠性下降或失效,使其在宇航产品中的使用受到制约.以大尺寸LCCC44封装器件为研究对象,对其焊点进行可靠性理论计算和试验分析,在此基础上提出了一种LCCC器件新型植球装联方法,可以有效提高器件的装联可靠性.
LCCC、热失配、装联可靠性
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TN605(电子元件、组件)
2017-08-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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