LED片式COB光源荧光胶层失效XPS分析

摘要：

在某些长期服役情况下，部分LED片式COB光源荧光胶发黑，影响了光的转换和取出。利用场发射扫描电镜（FESEM）观察荧光胶表面形貌，并用X射线光电子能谱仪（XPS）分析发黑前后荧光胶层的组成与化学键的变化。结果表明：老化发黑的试样中C的原子分数从59.26%增加至79.05%；Si的原子分数基本没有变化；随着老化发黑程度的加深，C=C键和C=O（O-C=O）键的相对含量分别由54.6%和6.2%降低至30.4%和3.0%，C=C和C=O键被大量分解，形成游离的C和O元素，富积在芯片表面形成了黑色物质。

关键词：LED失效、COB光源、成分分析、XPS分析

所属期刊栏目：37

分类号：TN31(半导体技术)

资助基金：广东省产学研计划基金项目项目编号2013B090600031。

在线出版日期：2016-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：63-66,98