LED片式COB光源黑化失效分析

摘要：

提出了一种LED光源黑化失效检测分析流程，分析了LED片式COB光源黑化失效的形成原因。将黑化失效的芯片剥离面用扫描电镜（SEM）等检测仪器对发黑区域进行定位，借助能谱仪（EDS）对发黑区域进行组分分析，确定光源黑化是荧光胶局部碳化所致。有限元模拟分析和验证性实验进一步说明片式COB光源黑化的主要原因是苯基类荧光胶结构中苯环裂解。

关键词：LED失效、黑化、片式COB、荧光胶碳化、有限元

分类号：TN31(半导体技术)

资助基金：广东省产学研计划基金项目项目编号2013B090600031。

在线出版日期：2015-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：249-252