BGA焊点纳米压痕实验有限元模拟分析
采用有限元方法模拟了BGA焊点的纳米压痕实验的加、卸载过程,并根据得出的应力应变分布云图,通过分析从各关键部位提取的应力应变随时间变化的关系,对焊点发生失效的位置及蠕变特征进行了讨论。首先建立BGA单个焊点的模型,设定其几何参数、边界条件、材料特性与加载方式,然后利用有限元分析工具MARC进行计算与标准试样实验结果相比较,通过反复修正应力-应变关系曲线,直至分析所得载荷-位移曲线与试验曲线很好地吻合,证实了模拟的可靠性,研究结果对焊点的可靠性评估有一定的指导意义。
纳米压痕、有限元方法、压力载荷、应力应变
TN60(电子元件、组件)
黑龙江省教育厅基金项目项目编号12521068。
2014-03-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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66-69,97