大规模集成电路可测性设计及其应用策略

摘要：

随着集成电路的规模不断增大,集成电路的可测性设计正变得越来越重要.综述了可测性设计方案扫描通路法、内建自测试法和边界扫描法,并分析比较了这几种设计方案各自的特点及应用策略.

关键词：集成电路、可测性设计、内建自测试、边界扫描

所属期刊栏目：26

分类号：TN40(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2005-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：254-258,263