10.3969/j.issn.1001-3474.2005.03.002
Sn-Bi-Ag-Cu钎料通孔焊点剥离现象试验研究
采用Sn-2.0Ag-0.5Cu-7.5Bi钎料,进行通孔波峰焊焊点剥离现象的模拟试验,剥离的断面形貌和成分分析表明,凝固延迟及铋元素偏析导致焊盘拐角附近钎料区在结晶后期残存液相并最终成为缩孔的聚集区,结晶后期该区的低塑性使收缩应变容易超过材料的塑性而发生开裂,发生机制与结晶裂纹发生机制相同,强偏析元素铋的存在导致剥离概率极高.钎焊后急冷仅能在一定程度上降低剥离的发生率.
无铅波峰焊、焊点剥离、偏析、结晶裂纹
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TG425(焊接、金属切割及金属粘接)
2005-06-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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