应用于电子器件红外探测的发射率修正误差分析

摘要：

器件表面温度是表征器件热性能的重要参数，应用红外热像法探测表面温度时，影响其测量结果准确性的关键因素是表面发射率的修正，通过对红外热像法发射率直接修正误差的统计分析，给出了不同条件下的发射率修正值标准差δ、误差ε的范围，提出了应用于电子器件的最小误差探测条件。

关键词：红外热像、发射率、温度

所属期刊栏目：22

分类号：TN65(电子元件、组件)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：179-180，182