10.3969/j.issn.1007-2934.2012.06.009
基于单片机和半导体制冷片的热敏电阻实验
介绍了半导体制冷片的基本结构,基于单片机和半导体制冷片设计了热敏电阻温度特性研究实验,设计完成了温度特性研究系统的硬件电路和软件构造,探讨了单片机和半导体制冷片在物理实验中的应用.此实验平台具有很好的扩张性,可用于设计组成各种温度控制类的实验内容.所完成的温度特性研究实验系统具有集成度高、体积小、使用方便等特点.
物理实验、热敏电阻、温度特性、单片机、半导体制冷片
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N45(教学实验、实习)
南京邮电大学研究项目NY211145;南京邮电大学教改研究项目JG00709JX14
2013-04-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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