基于E语言的外部存储器接口的功能验证

摘要：

在SoC设计中,传统功能验证方法已显示出其缺点,主要问题有:复杂验证场景难以构建;边缘情况难以覆盖.针对这些问题,业界提出了一种新的功能验证方法学--受限随机矢量生成的功能验证,该方法在满足约束条件的前提下,随机产生验证矢量.本文研究了受限随机矢量生成的功能验证在SoC设计中的应用,并以基于E语言和Specman验证平台验证了SoC芯片中的外部存储器接口,给出了具体的验证环境和验证步骤.验证结果表明,复杂验证场景和边缘情况的覆盖率均达到了100%,极大地提高了验证的效率和质量.

关键词：外部存储器接口、受限随机矢量、验证、覆盖率

所属期刊栏目：28

分类号：TP333.5;TP391.77(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2006-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：67-69,103