运用精益六西格玛降低分立器件芯片测试设备的故障率

摘要：

目的：为了提高芯片测试工序的测试产能，通过改进分立器件芯片测试工序的设备管理与流程，降低生产设备的故障率。方法：采用精益六西格玛，并通过其定义、测量、分析、改进、控制5个步骤研究，改进我公司分立器件芯片测试工序的设备管理与流程。结果：设备故障率由改进前的2.5%降低到1.4%。结论：精益六西格玛可减少设备管理与流程中存在的缺陷，降低分立器件生产设备的故障率，以便进一步提高芯片测试产能和设备管理水平。

关键词：精益六西格玛、故障率、流程、缺陷

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2013-09-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1522-1524