计算机硬件电路可测试性相关问题分析

摘要：

该文依据嵌入式系统的特征和可测试性要求,并考虑工程中可测试性的设计原则,对某机载嵌入式计算机的可测试性设计进行分析,在此基础上,完成了产品测试的总体方案.

关键词：计算机硬件电路、可测试性设计、故障检测

所属期刊栏目：5

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2009-08-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：4559-4560