JTAG软核设计与仿真

摘要：

JTAG边界扫描测试是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法.本文论述了边界扫描技术的结构特征及软核设计方法,并分析了JTAG电路中数据传输的路径及电路对速度的影响,以采样指令为例进行了功能仿真.

关键词：JTAG、边界扫描、逻辑仿真

分类号：TP312(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2006-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：135-136