基于MRV原理的锁相环抖动B IS T电路优化与实现

摘要：

为解决传统基于游标原理锁相环片上抖动测量电路的问题，提出了一种基于多精度游标（MRV）原理的锁相环抖动内建自测试技术。该原理不仅能够大幅降低测量电路面积，同时能够有效保证测量精度，减少锁相环（PVT）的影响。将MRV原理运用在游标延时链（VDL）和游标振荡器（VRO）2种典型技术上。在VDL方案中，由单级延时链改进为两级延时链，分别采用粗细2种不同分辨率的延时单元；在VRO方案中，根据待测信号的范围，通过改变振荡器的控制信号，测量电路动态选择相应的分辨率。在TSMC 130 nm工艺下，分别对2种改进方案进行电路实现，并从分辨率、面积、测量范围、测量误差等方面进行对比分析。

关键词：锁相环、内建自测试、多精度游标、抖动、游标延时链、游标振荡器

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家科技重大专项资助项目2009ZX01031;国家高技术研究发展计划863计划资助项目2009AA011701;国家自然科学基金资助项目61006029．

在线出版日期：2014-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：482-486