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10.3969/j.issn.1007-449X.2010.07.015

一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法

引用
通过分析透镜的成像规律,提出了一种利用光学系统的小孔对光的衍射作用,使像函数的特定部分进行了展宽,在不损失测量速度的情况下进一步提高交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘中杂质颗粒测量分辨力的新方法.在尺寸测量解算中利用三次样条函数对CCD像元输出进行插值,计算出阈值对应的位置,再由测量阈值计算出该值对应的像元位置.基于该原理工作的测量系统可获得分辨力为20 μm,准确度为±5μm的实际测量结果,并且测量速度约每小时1kg.该方法能够实现对高压交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘料和电缆超净生产中的杂质颗粒高速、高分辨力自动检测.

高分辨力、准确度、杂质测量、电缆绝缘料

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TP274(自动化技术及设备)

国家科技支撑计划课题2007BAE19B01

2010-11-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

87-90,98

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电机与控制学报

1007-449X

23-1408/TM

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2010,14(7)

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