多故障测试生成的一种简化算法

摘要：

针对求解布尔差分要做大量的异或运算,特别是求解高阶布尔差分繁琐的问题,提出一种具有约束条件的布尔差分简化方法.通过对布尔差分算法进行剖析,得出所求测试应该使测试集方程中的布尔函数f(X)随变量的改变而改变,由此可将差分方程表示成恒等式.为保证故障能向输出端传播,需要加入测试矢量生成的约束条件,所以该方法只需通过求解恒等式及约束条件来得到完全测试集.通过采用简化算法和未采用简化算法实例的比较,证明了简化方法的正确性和简化性,仿真验证了所求测试矢量可以检测出设定故障.

关键词：组合逻辑电路、布尔差分算法、测试生成算法、约束条件

所属期刊栏目：12

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：黑龙江省教育厅科学技术研究项目11533030

在线出版日期：2008-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：348-352