基于CCD的XLPE电缆料杂质颗粒测量系统的研制

摘要：

应用电子耦合摄像器件(CCD)一维扫描和试样的行进构成对试样的二维扫描检测方法,研制了XLPE电缆料杂质颗粒测量系统.论文分析了透镜、CCD器件对分辨率的影响,在选定扫描视场下优化了分辨率:测量系统分辨率在20mm视场下达到35μm,模板实验测中率为100%,测量每公斤料的颗粒误判率为零.用于110kV交联电缆绝缘料测量,最小颗粒为120μm时,测量速度可达2.6kg/h.

关键词：CCD、颗粒测量、电缆绝缘材料

所属期刊栏目：6

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：342-345,349