期刊专题

10.3969/j.issn.1002-087X.2016.08.037

电子辐照下GaAs/Ge太阳电池性能退化机制

引用
通过空间带电粒子辐照地面等效模拟实验得到1 MeV和1.8 MeV电子辐照下GaAs/Ge太阳电池电学性能退化规律.根据太阳电池电学参数退化模型,对太阳电池短路电流退化曲线进行非线性分析,建立空间GaAs/Ge太阳电池少数载流子扩散长度损伤系数随入射电子能量变化的基本规律.结果表明,少数载流子扩散长度损伤系数随入射电子能量的增高而增大,这与短路电流退化幅度随电子能量变化规律一致.

GaAs太阳电池、辐照损伤模型、少数载流子扩散长度

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TM914

国家自然科学基金项目11075043;黑龙江省教育厅科学技术研究项目12541233;黑龙江省高等教育教学改革项目JG2013010361

2016-10-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

1651-1652,1672

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电源技术

1002-087X

12-1126/TM

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2016,40(8)

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