10.3969/j.issn.1002-087X.2015.12.006
SnO2纳米片容量异常行为的新解释
纳米SnO2作为锂离子电池负极材料,充放电容量有时会超过其容量的理论值.传统的解释一般包含以下三个方面:(1)在嵌锂过程中,SnO2负极材料表面形成的SEI膜消耗或释放部分锂离子;(2)充放电过程中Li2O发生部分可逆反应;(3)纳米材料本身独特的孔结构可储存额外的锂离子.这里,基于所制备的SnO2纳米片,提出了另外一种可能引起其高容量的原因:即SnO2本身存在的氧缺陷.通过对SnO2纳米片在空气以及氮气气氛中的热重分析证实了这一观点.由于液相法制备的SnO2纳米材料普遍存在氧缺陷,所以氧缺陷可视为引起液相法制备的纳米SnO2负极材料容量异常行为的另外一种原因.
SnO2、氧缺陷、容量异常、锂离子电池
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TM912.9
国家“863”计划项目先进能源技术重大专项2014-AA052302
2016-03-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2577-2578,2630