10.3969/j.issn.1002-087X.2004.12.013
采用USP-CVD沉积SnO2透明导电膜--F、Sb掺杂及特性研究
以F、Sb掺杂,采用超声雾化喷涂化学气相沉积工艺制备出二氧化锡透明导电膜.对SnO2:F薄膜的沉积工艺进行了研究,探索出最佳的工艺条件,沉积出方块电阻低达6 Ω/口左右的高透过率透明导电薄膜,其可见光平均透过率可以达到85%.分析了HF和NH4F掺杂的不同点.对在两种最佳工艺条件下沉积的膜的结构、电学性质进行了研究.对SnO2:Sb薄膜的电学性质进行了研究,用X射线衍射方法分析了在同一温度下,不同Sb掺杂浓度的膜的结构.并对薄膜的透过率、折射率及光学带隙等光学性质进行了分析.
超声雾化喷涂化学气相沉积(USP-CVD)、SnO2:F、SnO2:Sb、NH4F、HF
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TM914.4
2005-01-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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