基于陷阱密度的双向拉伸聚丙烯薄膜耐γ辐照积累剂量阈值评估

摘要：

聚合物电介质在接受辐照后,电气性能会下降,可能使电气系统在发生电气故障前因电介质劣化而过早地终止使用寿命.以双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜为对象,研究了γ 辐照积累剂量对结晶度和陷阱参数的影响规律.依据辐照陷阱产生模型,定义辐照后陷阱密度增加系数ktrap以表征薄膜电气性能劣化程度,并提出了γ 辐照积累剂量阈值评估方法.研究结果表明,γ 辐照积累剂量超过 10 kGy时,BOPP薄膜的结晶度显著下降,陷阱深度随辐照积累剂量的增加而增大,陷阱密度随辐照积累剂量的增加呈指数形式增大.根据陷阱密度随辐照积累剂量的分段规律,得到BOPP薄膜劣化的起始辐照积累剂量阈值为 10 kGy,显著劣化的阈值为 80 kGy.

关键词：BOPP薄膜、γ辐照、结晶度、陷阱参数、阈值评估

所属期刊栏目：38

分类号：TM852(高电压技术)

资助基金：国家自然科学基金51822704

在线出版日期：2023-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：5039-5048