绝缘子室温硫化硅橡胶涂层热波模型及其涂覆质量无损检测方法

摘要：

绝缘子室温硫化硅橡胶(RTV)涂层的涂覆质量是评价其应用效果的重要指标,涂覆施工过程中引入破损、杂质、脱粘、厚度不均匀或不达标等,各种形式缺陷,将严重影响绝缘子外绝缘性能,给设备安全可靠运行带来隐患.该文提出一种基于光热辐射热波检测的RT V涂层涂覆质量无损检测技术,该方法通过分析试件在可控光热激励下的表面瞬态温度场得到其内部结构信息.首先建立绝缘子RT V涂层热波模型并进行求解;对RT V涂层典型缺陷进行了检测,并利用主成分分析和独立成分分析增强缺陷信号;最后从热波响应相位谱中提取最小相频二次方根倒数特征用于定量表征RT V涂层厚度.研究表明,该方法可以实现绝缘子RT V涂层涂覆质量的快速、准确、非接触检测,具有广阔的应用前景.

关键词：室温硫化硅橡胶、光热辐射热波检测、热波模型、最小相频二次方根倒数、厚度测量

所属期刊栏目：37

分类号：TM216(电工材料)

资助基金：国家重点研发计划;国家自然科学基金;上海市青年科技英才扬帆计划;上海市自然科学基金资助项目

在线出版日期：2022-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：2753-2760