基于均值点展开的单变元降维法在EIT不确定性量化研究中的应用

摘要：

在电阻抗成像(EIT)技术中,介质参数的不确定性会对正问题计算产生影响,进而影响图像重构,因而,对EIT介质参数不确定性量化的研究具有重要的意义.采用四层同心圆模型和二维圆模型作为仿真算例对EIT正问题进行研究,将电导率分布参数作为无相互作用的随机输入变量,使其服从随机均匀分布,基于均值点展开的单变元降维法(UDRM)计算得到边界电极电压的均值、标准差和概率分布等相关统计信息,分析电导率的不确定性对模型输出边界测量电压的影响,并与蒙特卡罗模拟(MCS)法、混沌多项式展开(PCE)法仿真结果进行比较.结果表明,UDRM能够准确高效地处理低维不确定性问题,且在处理高维不确定性问题时能有效缓解"维数灾难"问题.

关键词：电阻抗成像;不确定性量化;单变元降维法;蒙特卡罗模拟;混沌多项式展开

所属期刊栏目：36

分类号：TM470.4011(变压器、变流器及电抗器)

资助基金：河北省自然科学基金资助项目E2015202050

在线出版日期：2021-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：3776-3786