等离子体射流快速改性促进表面电荷衰减

摘要：

随着高压直流输电迅猛发展,绝缘材料在直流电压下表面电荷积聚现象严重威胁直流输电系统的安全可靠运行.为加快绝缘材料表面电荷的消散,采用大气压等离子体射流,以TEOS为前驱物,在环氧树脂表面沉积SiOx薄膜.对改性前后材料表面化学组成、表面电导率、表面电荷特性、表面陷阱分布以及耐压特性进行多参数测量,研究等离子体射流改性前后环氧树脂表面特性.实验结果表明:等离子体处理在环氧树脂表面引入大量以Si-O-Si及Si-OH基团为主的无机基团,且表面电导率提高2个数量级.随着改性时间的延长,表面电荷的初始积聚量减少,消散速度加快,陷阱能级深度变浅;沿面闪络电压呈现先增后降的趋势,在改性180s时闪络电压提高到最高值9.0kV.研究结果表明:通过大气压等离子体射流在聚合物表面沉积薄膜能够提高环氧树脂绝缘性能,为其工程应用提供了有效的改性方法.

关键词：等离子体射流、薄膜沉积、表面电荷、环氧树脂、闪络电压

所属期刊栏目：32

分类号：TM85(高电压技术)

资助基金：国家自然科学基金面上项目11575194;国家重点基础研究发展计划973计划2014CB239505-3;中央高校基本科研业务费专项资金2016ZZD07;河北省自然科学基金面上项目E2015502081

在线出版日期：2017-09-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：256-264